在原子吸收光谱光分析中，以
原子吸收氢化物发生器作为进样和反应输送系统，通过电热石英原子化器与原子吸收光谱仪的光路对接，从而利用原子吸收光谱仪分析系统对元素进行含量测定的方法，统称为氢化物发生-原子吸收光谱法。
氢化物发生-原子吸收光谱法主要针对As、Hg、Se、Te、Sb、Bi、Ge、Sn、Pb、Cd这几种易形成氢化物的元素含量进行痕量分析，其中大部分元素用常规度火焰分析会有强烈的背景干扰，而用石墨炉分析则容易因其低沸点造成挥发损失。
氢化物发生与原子吸收光谱、原子荧光光谱、电感耦合等离子体(ICP)光源、ICP质谱等测定方法联用是氢化元素痕量分析重要的方法。
原子吸收氢化物发生器的分析特性：
氢化物发生法因其待测元素形成的氢化物易于挥发，热稳定性差（容易原子化）的特点，只需要将其通过惰性载气（高纯氩）导入电热原子化器（900℃左右），再利用原子吸收光谱仪进行检测即可。
相对原子吸收光谱火焰法或石墨炉法来说，氢化物发生-原子吸收光谱法具有更高的灵敏度（预富集性）、更少的元素干扰（预分离，干扰元素难以形成氢化物共存）和更低的背景干扰（石英原子化器氩气屏蔽环境，温度低发射少）。
但是，干扰少不等于没有干扰，其中有的干扰严重时甚至会导致没有检测灵敏度，所以有必要了解和解决干扰来源。
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